光纜的中繼段測(cè)試又稱為（）測(cè)試。

凡是影響到光纜線路通信質(zhì)量的內(nèi)在或外在的各種因素均稱為（）。根據(jù)隱患的性質(zhì)可將隱患分為（）和（）兩種。

光由折射率為n1的光密介質(zhì)射向折射率為n2的光疏介質(zhì)時(shí)（n1＞n2），臨界角的正弦值為（）。

OTDR監(jiān)測(cè)光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

光纜傳輸系統(tǒng)發(fā)生障礙后，傳輸站應(yīng)首先判斷是設(shè)備障礙還是（）。

光纜線路測(cè)試包括光纜線路的工程測(cè)試和（）。

光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、（）和（）三個(gè)步驟。

目前用OTDR測(cè)量單模光纖，最常用的測(cè)試波長是（）。

介質(zhì)的折射率n與光在該介質(zhì)中的傳播速度v之間的關(guān)系是（）。

保護(hù)光纖接頭的熱縮套管由（）、（）及不銹鋼絲組成。