A.將始波對(duì)準(zhǔn)零位
B.將一次界面波對(duì)準(zhǔn)零位
C.將零件一次底波對(duì)準(zhǔn)零位
D.以上都可以
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A.利用始脈沖至1次底波之間的距離;
B.利用界面波至1次底波之間的距離;
C.利用一次底波和二次底波之間的距離;
D.以上都可以。
A.利用始脈沖至1次底波之間的距離;
B.利用界面波至1次底波之間的距離;
C.利用一次底波和二次底波之間的距離;
D.以上都可以。
A.直射縱波無(wú)法檢測(cè)孔周圍裂紋,只能采用橫波檢測(cè);
B.由于往返透射率較高,因此多數(shù)采用45º橫波檢測(cè);
C.某種情況下,橫波可以透過(guò)上層板發(fā)現(xiàn)第二層結(jié)構(gòu)裂紋;
D.以上都是。
A.接近比較困難,需要專用輔助工具完成檢測(cè)
B.往往需要專項(xiàng)培訓(xùn)才能實(shí)施檢測(cè)
C.熟練的操作和豐富的經(jīng)驗(yàn)是必要的,否則可能出現(xiàn)漏檢或誤判
D.以上都是
A.材料的聲速低
B.材料的晶粒組織粗大
C.表面粗糙且不平整
D.以上都有可能
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
儀器水平線性影響()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
單探頭法容易檢出()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是影響缺陷定量的因素。