A.對(duì)于α粒子,電離損失是其損失能量的主要方式
B.對(duì)于β粒子,不存在電離損失
C.軔致輻射屬于輻射損失
D.電離和激發(fā)是電離損失的主要表現(xiàn)形式
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A.帶電粒子與帶電粒子之間的非彈性碰撞
B.電離損失
C.輻射損失
D.帶電粒子與靶原子核的彈性碰撞
A.快電子屬于直接致電離輻射
B.間接致電離輻射包括電磁輻射和中子
C.帶電粒子輻射也可以是間接致電離輻射
D.射線為α粒子,則其屬于直接致電離輻射
A.射線是能夠產(chǎn)生致電離的輻射
B.α、β、γ是常見的射線種類
C.輻射能量>1eV即可稱為射線
D.能形成間接致電離的輻射也算射線
A.不穩(wěn)定核素的衰變反應(yīng)并沒有對(duì)應(yīng)的反應(yīng)截面
B.反應(yīng)截面的物理意義是反應(yīng)發(fā)生的概率,因此其量綱為1
C.反應(yīng)截面與入射粒子的能量無關(guān)
D.反應(yīng)截面與實(shí)驗(yàn)中單位時(shí)間入射的粒子數(shù)成反比
A.圓錐效應(yīng)可以產(chǎn)生單能粒子束
B.圓錐效應(yīng)可以產(chǎn)生定向粒子束
C.實(shí)驗(yàn)室系中入射角一定時(shí),在質(zhì)心系中必然有確定且唯一的入射角
D.對(duì)于任何放能反應(yīng),均會(huì)產(chǎn)生圓錐效應(yīng)
最新試題
下列哪項(xiàng)不屬于中子探測(cè)方法?()
吸收和散射對(duì)探測(cè)器活度測(cè)量也有影響,下列說法錯(cuò)誤的是()。
下列對(duì)探測(cè)器本征探測(cè)效率沒有影響的是()。
對(duì)偶然符合描述正確的是()。
關(guān)于241Am-9Be中子源的描述不正確的是()。
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是()。
小立體角法是測(cè)量α源活度的手段之一,關(guān)于此方法的描述錯(cuò)誤的是()。
軔致輻射對(duì)γ能譜的影響,描述錯(cuò)誤的是()。
常見的241Am-9Be中子源中,9Be的作用是()。
測(cè)量活度有相對(duì)法與絕對(duì)法,下列描述錯(cuò)誤的是()。