A.底波方式法B.AVG曲線圖法C.對(duì)比試塊法D.以上都是
A.平底孔試塊的探測(cè)面表面狀態(tài)不一致B.試塊材質(zhì)不均勻一致C.平底孔的幾何形狀與尺寸不完全一致D.以上都是
A.評(píng)定缺陷大小B.判斷缺陷性質(zhì)C.確定缺陷位置D.測(cè)量缺陷長(zhǎng)度