晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。