利用手持式X射線熒光光譜分析儀檢測(cè)時(shí)，到達(dá)作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)后，應(yīng)檢查被檢材料和環(huán)境是否存在影響分析結(jié)果的因素，如果有，必須清理干凈。以下屬于這些因素的有（）

技術(shù)監(jiān)督執(zhí)行單位應(yīng)配置開展技術(shù)監(jiān)督所必需的裝備，做好（）的宣傳與推廣工作。

顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是（）

耐張線夾與接續(xù)金具進(jìn)行握力試驗(yàn)時(shí)，試件中金具與金具之間或金具與夾具之間的導(dǎo)線長(zhǎng)度應(yīng)不小于導(dǎo)線外徑的（），且不小于（）。

以下屬于連接金具型式試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目有（）

輸變電螺栓進(jìn)行楔負(fù)載試驗(yàn)，楔墊的角度有（）

輻射防護(hù)的主要手段有（）

X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有（）

以下關(guān)于射線檢測(cè)特點(diǎn)的敘述，正確的是（）

總的來看，直接數(shù)字成像系統(tǒng)的特點(diǎn)有（）